ক্রস সেকশন পালিশার

JEOL IB-19530CP

Easy-to-use preparation system for producing high-quality sample cross-sections for SEM, EPMA, and Auger applications.

Features:
Godpsw Sm Uwjfx Acxjuh
• Artifact-free cross-section polishing with argon ions, ideal for subsequent SEM imaging or EBSD analysis
• Preparation of soft materials, composites up to hard metals/diamond
• (Re-)polishing of embedded sections
• Carbon or metal coating / sputtering possible
• Monitoring of preparation progress via integrated camera
• Dimensions: 587 mm W x 802 mm D x 429 mm H

বিজ্ঞাপনটি স্বয়ংক্রিয়ভাবে অনুবাদ করা হয়েছে। অনুবাদে ত্রুটি থাকতে পারে।